Шановні аспіранти та магістри технічних університетів України та Європи, а також провідні українські та закордонні науковці в галузі метрології!

Академія метрології України

Національний університет «Львівська політехніка»

Національний технічний університет України «КПІ ім. І. Сікорського»

ДП «Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем»

Запрошують прийняти участь у Всеукраїнській науково-технічній конференції молодих вчених у царині

інформаційно-вимірювальних технологій та метрології

«Technical Using of Measurement – 2020»

Конференція буде проводиться у м. Славське 4 - 7 лютого 2020 року. Під час конференції планується:

• проведення школи-семінару, де відбудуться виступи з доповідями провідних науковців в галузі метрології;
• зустріч членів Академії метрології України;
• нарада членів методичної комісії спеціальності 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка.

Матеріали конференції у вигляді збірника тез доповідей планується опублікувати на електронному носії. Матеріали доповідей, виголошені на конференції та рекомендовані до публікації, можуть бути опубліковані в журналах «Вимірювальна техніка та метрологія» та «Метрологія та прилади» (фахові видання, включені до переліку ДАК України, та внесені у міжнародну науко-метричну базу даних Index Copernicus (за додаткову оплату).

Тези та заявки на участь у конференції необхідно подати до 20 січня. Надсилайте матеріали і заявки у електронному вигляді на адресу з темою листа «TUM-2020»: tum.conference@gmail.com та поштою за адресою: м. Львів–79016, вул. С.Бандери 12, ІКТА, кафедра ІВТ.

Довідки за телефоном та електронною адресою: Тел.: 032-258-23-94 (з 9.00 до 17.00), Коваль Олександра Йосипівна (відповідальний секретар)

Запрошення, заявки на участь в конференції та іншу інформацію можна знайти в прикріпленому файлі: