Академия метрологии Украины

Конференции и семинары

Дата публикации : 06.11.2015

Шановні колеги !

 

Запрощуємо Вас прийняти участь у 4-ій Міжнародній науковій конференції

"ВИМІРЮВАННЯ, КОНТРОЛЬ ТА ДІАГНОСТИКА В ТЕХНІЧНИХ СИСТЕМАХ" (ВКДТС -2017), яка відбудеться

31 жовтня - 2 листопада 2017 року у м. Вінниця

 

Організатори конференції

  • Міністерство освіти і науки України
  • Вінницький національний технічний університет (ВНТУ)
  • Академія метрології України
  • Новий університет Лісабону
  • Державне підприємство Науково-дослідний інститут "Система"
  • ДП "Вінницький науково-виробничий центр стандартизації, метрології та сертифікації"
  • Учбово-науковий центр «Паллада»

 

Конференція присвячена пам’яті завідувача кафедри метрології та промислової автоматики ВНТУ, доктора технічних наук, професора Поджаренко В.О.

Метою конференції є висвітлення наукових досягнень провідних вчених України та світу в галузі вимірювання, контролю та діагностики в технічних системах, а також їх застосування на промислових підприємствах України.

 

Напрямки роботи конференції:

  • Теоретичні основи вимірювань, контролю та технічної діагностики.
  • Первинні вимірювальні перетворювачі та сенсори.
  • Прилади та методи контролю речовин, матеріалів та виробів.
  • Математичне моделювання процесів в засобах вимірювання, контролю та діагностики.
  • Інформаційно-вимірювальні системи, біотехнічні та медичні прилади і системи.

 

В рамках конференції буде працювати студентська секція

Робочі мови конференції: українська, англійська.

 

НАУКОВИЙ КОМІТЕТ

Голова

Грабко В.В., д.т.н., професор, ректор Вінницького національного технічного університету

Заступники голови

Володарський Є.Т., Україна, Київ, Академія метрології України

Стадник Б.І., Україна, Київ, Академія метрології України

Кучерук В.Ю., Україна, Вінниця

 

Члени комітету:

TadeuszSkubis, Poland, Silesian University of Technology

WaldemarWojcik, Poland, Lublin University of Technology

Valentina Vassilenko, Portugal, Universidade NOVA de Lisboa

Zygmunt Lech Warsza, Poland, Industrial Research Institute of Automation and Measurements

Астахов А.С., Україна, Вінниця

Бісікало О.В., Україна, Вінниця

Васілевський О.М., Україна, Вінниця

Большаков В.Б.,Україна, Харків

Дубовой В.М., Україна, Вінниця

Квєтний Р.Н., Україна, Вінниця

Косач Н.І., Україна, Харків

Кошева Л.О., Україна, Київ

Кулаков П.І., Україна, Вінниця

Кухарчук В.В., Україна, Вінниця

Микийчук М.М., Україна, Львів

Мокін Б.І., Україна, Вінниця

Мокін В.Б., Україна, Вінниця

Паракуда В.В., Україна, Львів

Петрук В.Г., Україна, Вінниця

Осадчук О.В., Україна, Вінниця

Хакімов О.Ш., Узбекистан, Ташкент

 

Додаткова інформація у файлі:

Скачать : Inf_UKR.pdf
Дата публикации : 02.17.2017

Уважаемые коллеги !

Организационный комитет  приглашает Вас и Ваших сотрудников принять участие в работе 27-ого Международного научного симпозиума "МЕТРОЛОГИЯ И МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ 2017", который состоится с 8-ого по 12-ое сентября в г. Созополь, Болгария.

Ознакомиться с первым информационным сообщением:

Скачать : MMA_first_call_ru.pdf
Дата публикации : 10.05.2017

Наукова конференція КПІ ім. Ігоря Сікорського

МЕТРОЛОГІЯ І ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА ТЕХНІКА

Орнатському Петру Павловичу

100 років

(МІВТ-2017)


Перше інформаційне повідомлення

та вимоги до матеріалів

Київ

22 листопада 2017 року


Організатори конференції

• Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського.
• Національна академія наук України.
• Академія метрології України.

Конференція присвячена 100-річчю з дня народження і пам'яті завідувача кафедри інформаційно-вимірювальної техніки, доктора технічних наук, заслуженого діяча науки і техніки, лауреата Державної премії України в галузі науки і техніки Орнатського Петра Павловича.
 

Напрямки роботи конференції:

• Теоретична метрологія.
• Первинні вимірювальні перетворювачі та сенсори.
• Математичне моделювання процесів вимірювання.
• Інформаційно-вимірювальні системи та прилади. 

Робочі мови конференції: українська, англійська, російська.

НАУКОВИЙ КОМІТЕТ

Голова
Якименко Ю. І., академік НАНУ, д. т. н., професор, перший проректор КПІ ім. Ігоря Сікорського.

Заступники голови

- Володарський Є. Т., д. т. н., професор, КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Туз Ю. М., д. т. н., професор, завідувач кафедри АЕД, КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Яремчук Н. А., к. т. н., доцент, завідувач кафедри ІВТ, КПІ ім. Ігоря Сікорського.

Члени комітету

- Бабак В. П., член.-кор. НАНУ, д. т. н., проф., ІТТФ НАН України;
- Биков В. Ю., академік НАПНУ, д. т. н., проф., Інститут інформаційних технологій і
засобів навчання НАПН України;
- Гуржій А. М., академік НАПНУ, д. т. н., проф., НАПН України;
- Здоренко В. Г., д. т. н., проф., КНУТД;
- Кондрашов С. І., д. т. н., проф., НТУ «ХПІ»;
- Кучерук В. Ю., д. т. н., проф., завідувач кафедри МПА ВНТУ;
- Маєвський С. М., д. т. н., проф., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Мислович М. В., д. т. н., проф., Інститут електродинаміки НАН України;
- Новік А. І., д. т. н., проф., Інститут електродинаміки НАН України;
- Павленко Ю. Ф., д. т. н., проф., Інститут метрології;
- Романов В. О., д. т. н., проф., Інститут кібернетики НАНУ;
- Стадник Б.І., д. т. н., проф., НУ «Львівська політехніка»;
- Чеховський С. А., к. т. н., проф., завідувач кафедри ІВТ ІФНТУНГ.

РЕДАКЦІЙНИЙ КОМІТЕТ

- Куц Ю. В., д. т. н., проф., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Синиця В. І., к. т. н., доц., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Шевченко К. Л., д. т. н., проф., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Щербак Л. М., д. т. н., проф., КиМУ.

ОРГАНІЗАЦІЙНИЙ КОМІТЕТ
Голова

Збруцький О. В., д. т. н., проф., декан ФАКС, КПІ ім. Ігоря Сікорського.
Члени оргкомітету
- Бобков Ю. В., к. т. н, доц., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Єременко В. С., д. т. н., проф., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Орнатський Д. П., д. т. н., проф., НАУ;
- Павлишин М. М., к. т. н, доц., КПІ ім. Ігоря Сікорського;
- Приміський В. П., к. т. н., с. н. с., ТОВ «Автоекоприлад»;
- Семенюк Р. С., аспірант КПІ ім. Ігоря Сікорського.

Важливі дати

Подання матеріалів доповідей і заявок                    до 31 жовтня
Повідомлення про включення до програми конференції   
                                                                              до 10 листопада
Оплата реєстраційних внесків                          до 15 листопада
Початок конференції                                          22 листопада о 10:00
 

До відома учнів Орнатського П. П. та випускників кафедри ІВТ: свої спогади про Петра Павловича  просимо направляти на електронну адресу faks_ivt@i.ua, вони будуть розміщені на сайті кафедри imt.kpi.ua.

Загальна сума до перерахування визначається самостійно учасниками. Для публікації доповіді від  4-5 повних сторінок А4 необхідно до 31 жовтня 2017 року надіслати матеріали,  оформлені згідно вимог та перерахувати 200 гривень без ПДВ за кожну доповідь. 

У вартість реєстраційного внеску входять: участь у роботі конференції, обслуговування, обладнання  та інформаційно-консультативне забезпечення, один примірник  журналу «Метрологія і прилади» з матеріалами доповідей. Сплачувати реєстраційні внески слід тільки  після отримання повідомлення про включення до програми конференції.  В разі неявки на конференцію сплачені внески не повертаються.

Реєстраційні внески потрібно сплачувати на рахунок:
Одержувач: ГО «Академія метрології України», код 38148433, 

 

р/р 26004000994816 , 

ПАТ «Універсал банк» в м. Києві 

МФО 322001 

з поміткою: оргвнесок «МІВТ-2017» без ПДВ.

Матеріали доповідей, після рецензування, будуть опубліковані у окремому номері журналу 

«Метрологія та прилади» (IndexCopernicus). 

Надсилайте матеріали у електронному вигляді за адресами:

SemeniukRoman@i.ua

та по пошті за адресою: 

проф. Єременку В. С., 

кафедра інформаційно-вимірювальної техніки,  Національний технічний університет України 

«КПІ ім. Ігоря Сікорського», 

пр. Перемоги, 37, 

м. Київ, 03056, Україна.

Довідки за телефонами: 
- Єременко Володимир Станіславович:  067-209-07-69 або 066-663-19-34.
- Павлишин Микола Михайлович: 098-526-67-48.
- Семенюк Роман Сергійович: 097-156-73-07 або 063-722-76-02

Скачать : Konf_kpi_2017.pdf

applemint.eu - створення сайту.

Copyright © 2012-2013 Академия метрологии Украины. Все права защищены.